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Elcometer345涂层测厚仪为应用非常广泛的仪器。具有整体式与分离式两种形式探头，可测量铁基（F）、非铁基（F）或铁基及非铁基（FNF）材料的涂层厚度，总会有一种仪器满足用户的各种要求。
该仪器按照操作者角度进行设计，使用简单。用户可自定义简单的数据统计，可复查平均值、标准偏差、读数的个数和较大、小读数。这些统计数据可以打印输出。
Elcometer345涂层测厚仪的功能特点：
*键盘锁住功能可防止意外事件发生，避免重新校准。
*mm或um与mils可相互转换
*整体式仪器采用¨大脚¨探头，性能更加稳定
*是平面、曲面和喷砂表面
*读数率快
*两点校准
Elcometer345涂层测厚仪的技术参数：
名称
范围
分辨率
度*
零件号
μm
mils
公制
英制
公制
英制
Elcometer345铁基整体
0-1500
0-60
0-20μm：
0.1μm
0-1mils：
0.01 mils
±1-3%或±2.5μm
±1-3%或±0.1 mils
A345FB-I1
Elcometer345铁基分离
0-1500
0-60
A345FB-S1
Elcometer345非铁基整体
0-1500
0-60
0-20μm：
0.1μm
0-1mils：
0.01 mils
±1-3%或±2.5μm
±1-3%或±0.1 mils
A345NB-I1
Elcometer345非铁基分离
0-1500
0-60
A345NB-S1
Elcometer345两用FNF整体
0-1500
0-60
0-20μm：
0.1μm
0-1mils：
0.01 mils
±1-3%或±2.5μm
±1-3%或±0.1 mils
A345FNFBI1
Elcometer345两用FNF分离
0-1500
0-60
A345FNFBS1
度*：按照接近所要求的厚度校准时为±1% ，若无界定范围内的校准，则为±3% 。
FNF专利号 GB 2306009B，USA 5886522
